Analytisches Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM- 6010PLUS/LA (REM) - Wir kaufen REM an

Analytisches Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM- 6010PLUS/LA (REM) - Wir kaufen REM an



Die grundlegenden Spezifikationen sind:
Auflösung: 4.0nm (bei 20kV)
Auflösung im LV-Modus: 5,0nm
Vergrößerung: 8X bis 300.000X (5X möglich)
Beschleunigungsspannung: 500V bis 20kV

JSM-6010PLUS_LA Anwendungen
Inspektion und Analyse von Fremdstoffen auf der Harzoberfläche mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie - Analyse von Fremdstoffen mittels RFA und REM-EDS -

Musterbilder:
https://www.jeolusa.com/NEWS-EVENTS/JEOL-USA-2022-Image-Contest-Entries-Winners/2016-Entries-Winners

Unser Kunde möchte damit einmolekularige Grapheoxid Strukturen erforschen.

LIBnote

Rückgestreute Elektronen mit hohem Winkel und rückgestreute Elektronen mit niedrigem Winkel

Rückgestreute Elektronen

Aufnehmen und Beobachten von Stereo (3D) Fotografien mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) 5: Stereo 3D Anaglyphenfotografie Sammlung

Stereo (3D) Fotografie und Beobachtung mit Rasterelektronenmikroskopie (REM)4: Anaglyphen-Stereofotografie

Aufnehmen und Beobachten von Stereo (3D) Fotografien mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) 3: Einführung in Stereogläser

Aufnehmen und Betrachten von Stereoaufnahmen (3D) mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) 2: So betrachten Sie Stereofotos

Vulkanasche vom Berg Asama am SEM gesehen

Quelle:
https://mse.washington.edu/sites/mse/files/research/SOP_SEM.pdf?v=02-21-2019

Betriebsverfahren: Analytisches Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM- 6010PLUS/LA

Hintergrund:
Aus dem MSE 313 Junior Lab Manual:
Ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) verwendet Elektronen als Sonde, so wie ein optisches Mikroskop Licht (Photonen) als Sonde verwendet.
(Photonen) als Sonde verwendet. Die Wechselwirkung von Elektronen mit dem zu untersuchenden Objekt wird in der
Die Wechselwirkung von Elektronen mit dem zu untersuchenden Objekt wird bei der Bildgebung und der chemischen Analyse genutzt und bildet den Gegenstand der Rasterelektronenmikroskopie. Hohe Auflösung
und große Schärfentiefe in Verbindung mit der röntgenchemischen Analyse macht sie zu einem der vielseitigsten
Instrumenten für die mikroskopische Untersuchung und Analyse von Materialien.
Die Wechselwirkung eines primären Elektronenstrahls mit einer Probe führt zur Erzeugung von sekundären
Elektronen (SE), rückgestreuten Elektronen (BSE), Auger-Elektronen (AE), Röntgenstrahlung, Kathodenlumineszenz und
andere Phänomene. Die verschiedenen Arten von Elektronen und Energiequanten, die oben erwähnt wurden, stammen aus
unterschiedlichen Tiefen des Materials und liefern mikroskopische Informationen über das Material.
Das andere Merkmal der Rasterelektronenmikroskopie ist das Auflösungsvermögen, d. h. das kleinste Detail, das ein
Mikroskop auflösen, oder "sehen" kann. Das Auflösungsvermögen von Elektronenmikroskopen ist um Größenordnungen
besser als das eines Lichtmikroskops, weil die Wellenlänge des Untersuchungsstrahls um Größenordnungen
Größenordnung kleiner ist. Das Auflösungsvermögen eines Mikroskops ist umgekehrt proportional zur Wellenlänge der
der Strahlung oder der Teilchen, die die Sonde bilden. Da Elektronen eine viel geringere Wellenlänge haben als
Licht haben, ist es möglich, mit dem REM feinere Details von Proben aufzulösen. Die Schärfentiefe eines SEM ist viel
höher als bei einem Lichtmikroskop. Die Tiefenschärfe ist definiert als die Fähigkeit eines Mikroskops, die
Merkmale eines Objekts in verschiedenen Tiefen scharf abzubilden.
Optische Mikroskopie vs. Elektronenmikroskopie
Das Attraktive an der Lichtmikroskopie ist, dass sie so einfach ist: Die Proben können in Luft oder Wasser analysiert werden,
die Bilder sind in natürlicher Farbe mit hundert- bis tausendfacher Vergrößerung, und
moderne Halbleiterelektronik mit ladungsgekoppelten Bauelementen (CCD) ermöglicht die Bildverarbeitung.
Das Lichtmikroskop sollte das Feld dominieren, tut es aber nicht. Das Rasterelektronenmikroskop
(SEM) ist aufgrund seiner Tiefenschärfe und seines Auflösungsvermögens das Mikroskop der Wahl. Untersuchung von
Abb. 1 zeigt einen auffälligen Kontrast zwischen einer A) optischen und B) REM-Ansicht eines Radiolariums bei gleicher
Vergrößerung.

Bei einem Lichtmikroskop ist die Schärfentiefe der Abstand über und unter der Bildebene
in der das Bild scharf erscheint. Mit zunehmender Vergrößerung des Lichtmikroskops nimmt die Schärfentiefe
Schärfentiefe ab.
Das dreidimensionale Aussehen des Probenbildes in (b) ist eine direkte Folge der großen Schärfentiefe
Schärfentiefe des SEM. Die große Schärfentiefe im REM ist das attraktivste Merkmal des REM.
Diese Schärfentiefe ergibt sich aus der Methode, bei der die Daten mit einem feinen Elektronenstrahl, der über die Oberfläche gescannt wird, gewonnen werden.
über die Oberfläche gescannt wird und die detektierten Sekundärelektronen ein Bild auf dem "TV"-ähnlichen Monitor erzeugen.
Die Grenze für die Größe der aufzulösenden Probe wird - unabhängig vom Gerätetyp - durch die
Wellenlänge. Die Wellenlänge des in Lichtmikroskopen verwendeten sichtbaren Lichts liegt zwischen 400 und 700
Nanometern (nm). Das Auflösungsvermögen von hochwertigen Lichtmikroskopen ist durch die Wellenlänge
des abbildenden Lichts auf etwa 200 Nanometer (0,2 Mikrometer) begrenzt. Die Rasterelektronenmikroskopie verwendet Elektronen
mit Energien von einigen tausend Elektronenvolt (eV), Energien, die tausendmal größer sind als die von
sichtbaren Lichts (2 bis 3 eV). Die Wellenlänge wird durch die nachstehende Gleichung 1 bestimmt.
λ = h/Impuls
wobei h die Plancksche Konstante ist. Für Elektronen mit 3600 Elektronenvolt beträgt die Wellenlänge 0,02 Nanometer. Die
Auflösungsvermögen gewöhnlicher Elektronenmikroskope liegt bei 1 nm (über dem Grenzwert, da Konstruktionsdetails
das Auflösungsvermögen bestimmen), ein Wert, der auf 0,1 nm gedrückt werden kann.
Schärfentiefe und Auflösungsvermögen ziehen einen zum SEM, und der Wartungsaufwand sowie die
Vakuumerfordernisse treiben einen weg. Elektronen sind leicht (1/1836 der Masse des Protons) und
werden in der Luft gestreut oder absorbiert. Die Probenkammer eines SEM muss unter Vakuum stehen, was die
Probengröße auf einige Zentimeter begrenzt. Da Elektronen Ladungen tragen (e = 1,6 x 10-19 Coulomb), müssen die Proben
mit einer leitenden Beschichtung versehen werden müssen, wenn sie nicht leitend sind (die meisten Keramiken und Polymere).
Schließlich ist das REM kapitalintensiv, d. h. es ist teuer und erfordert Wartung und Laborplatz.
Grundlegende Betriebsverfahren:
Bitte lesen Sie dieses Dokument vollständig, bevor Sie den Fahrertest machen.
Die REM-Kammer arbeitet im Hochvakuum (10 -4 - 100 Pa), daher sollten die Benutzer das Hochvakuum beachten.







Handbuch:
Das Handbuch wird als eingescannte PDF vorab geliefert, wenn Sie es wünschen. Die Kosten für das Versenden hängen von der Art des Versandes ab.


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Pb = Batterie enthält mehr als 0,004 Masseprozent Blei
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